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XZZ 4 In 1 Motherboard Layered Testing Fixture For iPhone 15 Series
XZZ 4 In 1 Motherboard Layered Testing Fixture For iPhone 15 Series

XZZ 4 In 1 Motherboard Layered Testing Fixture For iPhone 15 Series

Le XZZ Phone 15 Series 4-in-1 Motherboard Layered Test Fixture est l'outil idéal pour tester les cartes mères des iPhone 15, 15 Plus, 15 Pro et 15 Pro Max avant leur installation. Il permet de tester la fonctionnalité des cartes mères de manière précise et efficace, assurant ainsi des réparations de qualité supérieure.

Caractéristiques :

🔹 Compatibilité étendue – Teste les cartes mères des iPhone 15, 15 Plus, 15 Pro et 15 Pro Max. Compatible avec les versions SIM Card insertion et eSIM US pour les modèles 15 Pro/15 Pro Max.

🔹 4 en 1 – Cadre de test polyvalent pour un contrôle complet des fonctions de la carte mère.

🔹 Réduction des problèmes de délaminage – Résout le problème des dé-laminations répétées pendant le processus de réparation de la carte mère.

🔹 Probes en cuivre béryllium – Utilise des spring probes en cuivre béryllium de haute qualité, garantissant une excellente conductivité, stabilité en surcharge, faible déviation des valeurs de détection et une grande précision. Les probes coniques sont résistantes à la résine et à la soudure.

🔹 Facile à utiliser – Conception simple et rapide à utiliser, idéale pour les techniciens qui cherchent une solution efficace pour tester les cartes mères avant l'installation.

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XZZ 4 In 1 Motherboard Layered Testing Fixture For iPhone 15 Series

XZZ 4 In 1 Motherboard Layered Testing Fixture For iPhone 15 Series

Le XZZ Phone 15 Series 4-in-1 Motherboard Layered Test Fixture est l'outil idéal pour tester les cartes mères des iPhone 15, 15 Plus, 15 Pro et 15 Pro Max avant leur installation. Il permet de tester la fonctionnalité des cartes mères de manière précise et efficace, assurant ainsi des réparations de qualité supérieure.

Caractéristiques :

🔹 Compatibilité étendue – Teste les cartes mères des iPhone 15, 15 Plus, 15 Pro et 15 Pro Max. Compatible avec les versions SIM Card insertion et eSIM US pour les modèles 15 Pro/15 Pro Max.

🔹 4 en 1 – Cadre de test polyvalent pour un contrôle complet des fonctions de la carte mère.

🔹 Réduction des problèmes de délaminage – Résout le problème des dé-laminations répétées pendant le processus de réparation de la carte mère.

🔹 Probes en cuivre béryllium – Utilise des spring probes en cuivre béryllium de haute qualité, garantissant une excellente conductivité, stabilité en surcharge, faible déviation des valeurs de détection et une grande précision. Les probes coniques sont résistantes à la résine et à la soudure.

🔹 Facile à utiliser – Conception simple et rapide à utiliser, idéale pour les techniciens qui cherchent une solution efficace pour tester les cartes mères avant l'installation.